鑒別出LOW-E玻璃
隨著Low-E玻璃的發(fā)展,Low-E玻璃以其優(yōu)越的節(jié)能性能越來越受到建筑市場的青睞。全國Low-E玻璃的產(chǎn)量持續(xù)高速增長。由于銷售量的增加和制造水平的日趨成熟,low-e玻璃價(jià)格也有所降低,應(yīng)用的范圍從最初的高檔公共建筑快速擴(kuò)展到了普通的民用建筑。那么如何鑒別普通玻璃與low-e玻璃呢?實(shí)際應(yīng)用中,如果已經(jīng)知道是Low-E玻璃,判別Low-E膜面的位置比較簡單,但由于Low-E玻璃的特殊性,一般人員僅從外觀上很難區(qū)分與普通鍍膜玻璃甚至是非鍍膜玻璃的差異。
1、光度計(jì)測量法鑒別Low-E玻璃最準(zhǔn)確的方法是使用遠(yuǎn)紅外分光光度計(jì)測量玻璃表面輻射率。按照GB/T18915.2-2002《低輻射鍍膜玻璃》標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行判定,離線Low-E玻璃輻射率≤0.15,在線Low-E玻璃輻射率≤0.25.這也是權(quán)威玻璃檢測機(jī)構(gòu)所使用的方法。
但由于只能檢測小塊的單片玻璃,所以中空玻璃必須被拆解成單片玻璃后才能進(jìn)行。同時(shí),由于遠(yuǎn)紅外分光光度計(jì)價(jià)格昂貴,所以這種方法并不適用于加工及使用現(xiàn)場的快速判定。
2、在適用于現(xiàn)場的判定方法中,單片Low-E玻璃是最好判別的。目前國內(nèi)市場上單片Low-E的應(yīng)用主要是耀華在線Low-E玻璃,它可以像普通玻璃一樣進(jìn)行鋼化、熱彎、夾層等深加工。這種玻璃可以用便攜式表面輻射率測量儀測量玻璃表面的輻射率并判定,但更為簡單實(shí)用的方法是表面電阻測量法。
3、導(dǎo)電測量法由于Low-E玻璃的熱反射作用實(shí)際上是膜層自由電子與電磁波作用的結(jié)果,所以Low-E玻璃的表面是導(dǎo)電的。
普通的非鍍膜玻璃表面電阻值為無窮大,陽光控制鍍膜玻璃依據(jù)所鍍的膜層材料不同,表面電阻值會有所下降,但依然很高。Low-E玻璃表面的方塊電阻值一般會在20歐姆以下。
利用這一特性我們可以快速地進(jìn)行鑒別。玻璃表面的方塊電阻值應(yīng)使用四探針測試儀測量,將測量頭放在干燥清潔的玻璃表面就可以測出方塊電阻,方塊電阻能夠通過相關(guān)的公式轉(zhuǎn)化成輻射率,從而判定是否為Low-E玻璃。
使用普通萬用表也可以簡單判定,將萬用表筆尖放置在玻璃表面,正負(fù)筆尖間距1厘米左右,此時(shí)如果顯示的電阻值在幾十歐姆時(shí),就可以判定是Low-E玻璃膜面了,如果是100歐姆以上則不是Low-E玻璃膜面。但此種方法易受筆尖間距和接觸壓力及接觸面積影響,所以應(yīng)多測幾點(diǎn)綜合判定。
4、由于合成中空玻璃時(shí),Low-E膜面是放在中空玻璃里面,所以判定中空玻璃是否使用Low-E比較困難。
雖然Low-E中空玻璃比普通中空玻璃的傳熱系數(shù)低很多,但想在現(xiàn)場快速測出玻璃傳熱系數(shù)卻不是件容易的事。目前,在不破壞中空玻璃的前提下,相對簡單的辦法還是使用Low-E玻璃的導(dǎo)電性原理。
利用電磁線圈或者是電容制造出一個弱電磁場,當(dāng)鍍有導(dǎo)電膜的Low-E玻璃靠近這個電磁場時(shí),會改變電磁場的狀態(tài),從而影響輸出電流或輸出電壓。
依據(jù)這一原理便可以檢測出中空玻璃內(nèi)部是否有Low-E膜,并可以依據(jù)變化的大小得知Low-E膜距離是遠(yuǎn)還是近。目前市場上技術(shù)比較成熟的Low-E膜面測試儀便是基于此原理,將手持式Low-E測試儀緊貼中空玻璃的表面放置,按下測試按鈕,依據(jù)指示燈閃亮的狀態(tài)便可以判別出是否有l(wèi)ow-E膜面。
這種方法快速簡單,不用拆解中空玻璃,因而具有良好的推廣價(jià)值。但如果中空玻璃面積太小,檢測結(jié)果易受到邊部鋁條或窗框的影響,其檢測結(jié)果也不具有權(quán)威性,就是說,儀器判定有Low-E膜時(shí),不能保證一定是符合標(biāo)準(zhǔn)的Low-E產(chǎn)品。
5、影像測量法目前流傳著這樣一種鑒別方法:將火柴或光亮物體放在窗玻璃前面,觀察玻璃里面呈現(xiàn)的4個影像(換句話說,有4束火焰或4個物像),若是Low-E玻璃則有一個影像的顏色不同于其他3個影像,若4個影像的顏色相同,便可確定未裝Low-E玻璃。
這種方法是利用即使是無色的高透型Low-E玻璃也會有一點(diǎn)輕微的反射色的原理進(jìn)行判別的,僅適用于白玻中空玻璃與無色Low-E中空玻璃之間的簡單判別。
6、中空Low-E玻璃還有其他一些簡單的鑒別方法,雖然各有局限性,但有助于綜合使用。離線Low-E合成中空時(shí)需要剔除邊部膜層,所以可以通過查看玻璃邊部靠近間隔條的位置是否有一道玻璃與膜的分界線來判定。
在線Low-E合成中空時(shí)不剔除邊部膜層,所以也可以在邊部密封膠未蓋住玻璃內(nèi)表面的地方用電阻法判定。
綜上所述,單片Low-E玻璃的鑒別方法比較簡單,中空Low-E在不拆解的情況下很難精確判定,目前許多研究人員正在研究更為實(shí)用的檢測儀器。
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